温差电材料电导率和塞贝克系数测试系统
本系统是自行设计制作的一套测试设备, 该设备可以测试高温合
金、半导体材料的电导率和塞贝克系数,测温范围为室温 ~600℃。
测试原理图:
测试电导率
电导率的测试
测量温差电材料电导率的基本电路如上图所示。让一电流通过样品,测量
样品上两探针间的电压降。求电导率的公式为:
A
L
RsV
V
A
L
V
I 1
1
2
1
式中, I 是通过样品的电流,单位为 A,它可用标准电阻 Rs 上的压降 V2与
其电阻值 Rs之比来确定; V1为探针两端的电压降,单位为 V;L 是样品上两探针
间的距离,单位为 m;A为样品的截面积,单位为 m2。这样,材料电导率 σ的单
位就是Ω
-1m-1,即 S/m。为了消除测试过程中因样品上通过电流产生所温差而引
起的温差电动势,可将电流反向一次,计算两次电压降读数的平均值。
标
准
电
阻
V2 V1Rs
电极
电