电子技术是光波段的电子技术，它是继微电子技术之后 ,近十·年来迅猛发展的新技术 , 集中了固体物理、波导光学、材料科学和半导体科学技术的成就 ,成为电子技术和光子技术 的自然扩展 ,具有强烈应用背景的新兴交叉学科 ,对经济、科技、国防等有重要的意义。而作 为倒置开关是存储测试系统的关键部件， 它的可靠性决定了存储测试系统的可靠性， 直接关 系整个实验的成败。 本文针对存储测试技术对测试系统低功耗的要求， 研究了一种光电倒置 开关，并设计一套完整的可靠性检测系统，有效分析了光电倒置开关的可靠性。 传感器家族中的重要成员， 光电开关一直都以其卓越的性能而备受青睐。 随着技术的发 展，新一代的光电开关产品更是具有延时、展宽、外同步、抗干扰、可靠性高、工作区域稳 定和自诊断等智能化功能，备受更多用户的青睐， 广泛应用于多个行业中。 同时，光电开关 也朝着体积更小、功能更多、检测精度更高、响应时间更