L o w - E 玻 璃 的 使 用 误 区 误区一：离线 Low-E 玻璃的膜层破坏是因为氧化而引起在许多场合我们的一些专家学 者或工程技术人员把离线 Low-E 玻璃膜层被破坏的原因归结为膜层中的银与空气中的氧气 发生氧化反应的结果。 实际上一般情况下这个氧化作用并不快， 其实其大多数的破坏来自硫 化作用。 由于离线 Low-E 玻璃采用银为功能层， 银与硫之间有很大的亲和力， 银在空气中遇到硫化 氢气体或硫离子时很容易生成一种极难溶解的银盐 （Ag2S）（银盐就是辉银矿的主要成分） 。 这种化学变化可以在极微量的情况下发生， 银在空气中只要遇上几万亿至几十万亿分之一的 硫化氢气体或硫离子，就会发生下列化学反应 ;4Ag+2H2S+O2=2Ag2S （黑色产物） +2H2O 这种化学反应要远比单纯的氧化反应强烈得多， 快速得多。 这才是大多数情况下导致膜层性 能降低的主要原因。另外离