Low-E玻璃的使用误区 误区一：离线 Low-E 玻璃的膜层破坏是因为氧化而引起在许多场合我们的 一些专家学者或工程技术人员把离线 Low-E 玻璃膜层被破坏的原因归结为膜层 中的银与空气中的氧气发生氧化反应的结果。实际上一般情况下这个氧化作用 并不快，其实其大多数的破坏来自硫化作用。 由于离线 Low-E玻璃采用银为功能层，银与硫之间有很大的亲和力，银在空气 中遇到硫化氢气体或硫离子时很容易生成一种极难溶解的银盐（ Ag2S）（银盐 就是辉银矿的主要成分）。这种化学变化可以在极微量的情况下发生，银在空 气中只要遇上几万亿至几十万亿分之一的硫化氢气体或硫离子，就会发生下列 化学反应 ;4Ag+2H2S+O2=2Ag2S（黑色产物） +2H2O这种化学反应要远比单纯的氧 化反应强烈得多，快速得多。这才是大多数情况下导致膜层性能降低的主要原 因。另外离线 Low-E 玻璃在储运、切割、磨边、