研究了Zn2+胁迫下白皮松(Pinus bungeana)针叶细胞膜的电特性,对盆栽6a生白皮松苗,应用电阻抗图谱法测定了不同浓度Zn2+(0,200,500,1000,2000,3000 mg.L-1)胁迫下白皮松针叶的胞外电阻率、胞内电阻率、弛豫时间、弛豫时间分布系数、高频电阻率和低频电阻率。结果表明:在Zn2+胁迫下,随处理时间的延长,胞外电阻率和低频电阻率总是增加,胞内电阻率和高频电阻率则先减小后增加,弛豫时间先增加后减小,弛豫时间分布系数无明显变化趋势。随Zn2+胁迫浓度的增加,处理7d后各参数均无明显变化;处理14d后,各参数均随浓度的增加逐渐增加,相比对照,胞外电阻率和低频电阻率都分别增加了115%~235%,胞内电阻率分别增加了34%~95%;处理21d后,除弛豫时间分布系数外,其余各参数在3000mg.L-1Zn2+处理相比对照差异显著,胞外电阻率和低频电阻率增加129%,胞内电阻率增加232%,弛豫时间减少74%,高频电阻率增加216%;处理28d后,胞外电阻率、胞内电阻率、高频电阻率和低频电阻率均在Zn2+浓度200,2000,3000 mg.L-1时与对照相比有显著差异。可见,Zn2+胁迫处理14d时,对白皮松针叶均有明显伤害,可能是对Zn2+胁迫最敏感时期;白皮松针叶不能忍耐2000 mg.L-1以上Zn2+浓度胁迫。