微种植体辅助整体内收上前牙段的头影测量
微种植体辅助整体内收上前牙段的头影测量
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26 2021-04-27
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正文 简介
目的:研究微种植体支抗在矫治上颌前突病例中整体内收上前牙段的应用。方法:选择5例上颌前突患者,拔除第二前磨牙,采用直丝弓矫治技术,辅以微种植体支抗同时整体内收前牙段(6个前牙及2个第一前磨牙),通过X线头影测量分析,观察矫治前后上颌骨软硬组织的变化。结果:上颌骨的变化轻微;切牙平均内收(4.6±1.5)mm,压低(0.8±1.1)mm,根尖后移(1.7±1.4)mm,切牙与腭平面的夹角减少(6.8±3.5)度;支抗磨牙水平前移(0.5±0.3)mm,没有出现明显的颌向伸长;上唇突度减少(2.0±0.9)mm,鼻唇角增大(3±2.4)度。结论:微种植体能提供稳定的支抗,同时整体内收上前牙段,最大限度避免支抗的丧失,改善上唇突度。
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