简并四波混频法测量掺半导体玻璃的三阶极化率X~((3))
使用530nm激光及简并四波混频方法,可测量得到后向反射波与探测波的强度比,从而精确给出了掺有CdS_xSe_(1-x)微晶玻璃的三阶极化率x。文中给出了两种样品的测量结果。 1.引言 近几年来,围绕着光通讯和光计算机的研究,人们正在研制和探索具有大的三阶非
开通会员