InGaAs探测器中的双孔法非线性校正技术

InGaAs探测器中的双孔法非线性校正技术

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39 2021-09-10
pdf | 192KB | 未知
正文 简介
探测器的非线性误差是影响光谱仪器精度的主要因素,采用双孔法解决InGaAs探测器的非线性校正问题,消除了InGaAs探测器非线性误差对水红外分析仪吸光度示值的影响。实验结果表明,水红外分析仪经非线性校正后的吸光度偏差明显小于校正前的吸光度偏差,提高了仪器测定结果的准确度。
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