微管光缆试验时的感应损耗研究
微管光缆试验时的感应损耗研究
101 4.5
37 2021-09-10
pdf | 458KB | 未知
正文 简介
在这项研究中，Telenor挪威科技公司的相关科研人员根据传输网光缆的要求，对微管光缆进行了试验。研究显示，关于张力和温度试验极限值，微管光缆具有可接受的性能。然而，在对由12mm外径和10Hun内径（12／10mm）管道保护的微管光缆进行螺杆压扁试验过程中，结果却令人无法接受。研究显示，单根光纤在张力试验过程中的损耗增加具有大的变化，这不仅与光纤MAC数量略微相关，而且取决于光缆结构及材料细节。在温度试验中，观察到单根光纤衰减增加的范围同样很显著，与光纤MAC数量的相关性也更加明显。在螺杆／钢板试验中观察到的损耗增加具有统计性，幅度大且范围广。所有试验均揭示出1550nm、1625nm和1642nm下附加损耗之间的特性比。
对不起，您暂无在线预览权限，如需浏览请
立即登录*温馨提示：该数据为用户自主上传分享，如有侵权请举报或联系客服：400-823-1298处理。
热门商品
- 2024-09-05 t6893*** 1.6MB 4.5
- 2023-04-21 BUHb313534361*** 24KB 4.5
- 2023-04-21 BUHb313534361*** 42KB 4.5
- 2023-04-14 BUHb313534361*** 44KB 4.5
- 2023-04-12 chenzhipan20010*** 90KB 4.5
- 2023-04-12 chenzhipan20010*** 52KB 5
- 2023-03-06 18826288*** 576KB 5
- 2023-02-14 18826288*** 1.5MB 5
- 2022-09-16 Hc4Bq15738896*** 15KB 5
- 2022-09-07 jiang2*** 39KB 4.5
您可能感兴趣
50
原价:
100 积分
立即购买